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芯片級 EDA

邊界掃描測試軟件工具 UniVista Tespert BSCAN

 

合見工軟UniVista Tespert BSCAN是一款高效的DFT工具,旨在幫助用戶在集成電路(IC)設(shè)計中實現(xiàn)邊界掃描測試。該工具通過在每個PAD附近加入Boundary Scan Cell來實現(xiàn)對每個PAD的控制和觀察,從而無需使用物理測試探針即可測試芯片IO功能和板上集成電路之間的互連。該工具能夠?qū)π酒M行無損檢測,確保設(shè)計的可測試性,提高產(chǎn)品的測試效率,并降低測試成本。工具支持以RTL形式自動插入邊界掃描鏈和標(biāo)準(zhǔn)的JTAG TAP控制器。支持邊界掃描鏈的重排、剪裁、邏輯分組、優(yōu)化等功能。

 

產(chǎn)品特性

  • IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)兼容
  • 基于IJTAG的高效自動化流程
  • 自動化測試生成
  • 高效故障診斷
  • 靈活易調(diào)的分組策略
  • 直觀易用的圖形界面

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