合見工軟UniVista Tespert BSCAN是一款高效的DFT工具，旨在幫助用戶在集成電路（IC）設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)邊界掃描測(cè)試。該工具通過(guò)在每個(gè)PAD附近加入Boundary Scan Cell來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)每個(gè)PAD的控制和觀察，從而無(wú)需使用物理測(cè)試探針即可測(cè)試芯片IO功能和板上集成電路之間的互連。該工具能夠?qū)π酒M(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，確保設(shè)計(jì)的可測(cè)試性，提高產(chǎn)品的測(cè)試效率，并降低測(cè)試成本。工具支持以RTL形式自動(dòng)插入邊界掃描鏈和標(biāo)準(zhǔn)的JTAG TAP控制器。支持邊界掃描鏈的重排、剪裁、邏輯分組、優(yōu)化等功能。
產(chǎn)品特性
- IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)兼容
- 基于IJTAG的高效自動(dòng)化流程
- 自動(dòng)化測(cè)試生成
- 高效故障診斷
- 靈活易調(diào)的分組策略
- 直觀易用的圖形界面
滬公網(wǎng)安備31010402009389號(hào)