合見工軟UniVista Tespert BSCAN是一款高效的DFT工具，旨在幫助用戶在集成電路（IC）設(shè)計中實現(xiàn)邊界掃描測試。該工具通過在每個PAD附近加入Boundary Scan Cell來實現(xiàn)對每個PAD的控制和觀察，從而無需使用物理測試探針即可測試芯片IO功能和板上集成電路之間的互連。該工具能夠?qū)π酒M行無損檢測，確保設(shè)計的可測試性，提高產(chǎn)品的測試效率，并降低測試成本。工具支持以RTL形式自動插入邊界掃描鏈和標(biāo)準(zhǔn)的JTAG TAP控制器。支持邊界掃描鏈的重排、剪裁、邏輯分組、優(yōu)化等功能。
產(chǎn)品特性
- IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)兼容
- 基于IJTAG的高效自動化流程
- 自動化測試生成
- 高效故障診斷
- 靈活易調(diào)的分組策略
- 直觀易用的圖形界面
滬公網(wǎng)安備31010402009389號