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集成電路的測(cè)試是整個(gè)集成電路設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中不可或缺的核心環(huán)節(jié)。高品質(zhì)低成本的測(cè)試是保證芯片質(zhì)量的關(guān)鍵，也是獲得商業(yè)成功的重要保障，而高效的測(cè)試向量自動(dòng)生成工具（ATPG）是獲得最優(yōu)測(cè)試的必要保證。上海合見工業(yè)軟件集團(tuán)有限公司（簡(jiǎn)稱“合見工軟”）作為自主創(chuàng)新的高性能工業(yè)軟件及解決方案提供商，集合多位全球EDA知名技術(shù)專家，傾力開發(fā)推出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的商用級(jí)測(cè)試向量自動(dòng)生成工具UniVista Tespert ATPG，集成了優(yōu)化的庫(kù)單元提取工具，高效的并行多線程引擎，直觀易用的圖形界面，同時(shí)支持基于硬件的高效測(cè)試向量壓縮技術(shù)，能夠?yàn)楦鞣N類型的芯片提供優(yōu)質(zhì)高效的測(cè)試方案。
產(chǎn)品特性
- 優(yōu)化的ATPG庫(kù)單元的自動(dòng)提取和校驗(yàn)
- 高效的測(cè)試向量自動(dòng)生成
- 基于硬件的高效測(cè)試向量壓縮技術(shù)
- 直觀易用的圖形界面
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