UniVista Tespert DIAG是一款創(chuàng)新高效的缺陷診斷軟件工具，自主研發(fā)了高效準確的診斷引擎，采用新一代數(shù)據(jù)結構，支持壓縮和非壓縮的測試向量診斷技術。其圖形化界面提供了缺陷全景對照，幫助工程師快速定位和解決系統(tǒng)性缺陷，大幅提升芯片測試效率，加速產品上市時間。
產品特性
- 精準的缺陷定位：通過利用版圖信息，UniVista Tespert DIAG能夠精確地確定缺陷的失效機制、邏輯位置和物理位置，這有助于快速識別和解決系統(tǒng)性缺陷
- 新一代Layout Database：采用新一代的物理缺陷數(shù)據(jù)存儲管理方案，實現(xiàn)更小更安全的關系型數(shù)據(jù)庫，支持高效率和高并發(fā)查詢
- 靈活高效的Volume Diagnosis：創(chuàng)新的并行診斷引擎不僅提高了診斷效率和吞吐量，還通過降低資源消耗，有效降低了量產診斷的運行成本
- 圖形化缺陷全景對照：UniVista Tespert DIAG提供了豐富的圖形化視圖，允許用戶在同一GUI窗口中查看網表、電路結構、仿真波形、版圖信息以及故障日志文件，實現(xiàn)了靈活的缺陷報告查看和位置跟蹤
- 故障分析友好的診斷報告：自動嵌入有限的缺陷相關數(shù)據(jù)，使FA工程師能夠利用診斷報告進行全景對照分析，提高故障分析的成功率和效率。同時助力芯片設計公司和晶圓廠之間的數(shù)據(jù)通路，加速了良率提升的過程
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