隨著SoC芯片復(fù)雜度越來越高，在數(shù)字設(shè)計和驗證工作中，調(diào)試工作的占比也越來越高。一款高效穩(wěn)定的調(diào)試工具，會大大加速SoC芯片的上市。
上海合見工業(yè)軟件集團有限公司（簡稱“合見工軟”）作為高性能工業(yè)軟件及解決方案提供商，推出了高性能、高效易用的一站式開放調(diào)試平臺UniVista Debugger（簡稱“UVD”）。
UVD采用了前沿的技術(shù)，用戶界面的設(shè)計注重簡潔和易用性，架構(gòu)和關(guān)鍵技術(shù)設(shè)計注重高性能、高容量和對不同驗證工具的兼容性和方案一致性，產(chǎn)品功能的設(shè)計立足于用戶的實際需求并適應(yīng)驗證流程和方法學(xué)的發(fā)展。UVD可以編譯源文件，生成高性能、大容量的設(shè)計及驗證環(huán)境信息數(shù)據(jù)庫；其配合合見工軟驗證工具或第三方驗證工具生成統(tǒng)一的高壓縮比的波形數(shù)據(jù)庫（USDB），利用用戶友好、快速響應(yīng)的可視化界面，可高效完成調(diào)試任務(wù)，加速驗證收斂。
產(chǎn)品特性
- 全面的設(shè)計（DUT）與測試臺（Testbench）調(diào)試
- 借助強大的源代碼視圖和導(dǎo)航，用戶可以便捷高效地瀏覽查看源代碼
- 智能源代碼追蹤大大加速了代碼追蹤調(diào)試的效率
- 基于高效的波形調(diào)試手段，用戶可以直觀高效地分析邏輯信號的行為
- 原理圖視圖以直觀形象的方式展示邏輯電路的結(jié)構(gòu)
- 直觀便捷的覆蓋率分析視圖可以加速覆蓋率的收斂
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