UniVista Tespert MBIST是一款先進(jìn)存儲(chǔ)單元自測(cè)試工具，集成了先進(jìn)的IJTAG接口協(xié)議，提供直觀易用的圖形界面，支持多種測(cè)試算法和靈活的設(shè)計(jì)規(guī)則檢查引擎。通過(guò)UVTespert Shell自動(dòng)化平臺(tái)，它有效提高了測(cè)試設(shè)置的效率和可靠性，特別針對(duì)先進(jìn)工藝如FinFET進(jìn)行了優(yōu)化，為客戶提供了全面的存儲(chǔ)單元測(cè)試解決方案。
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產(chǎn)品特性
- 支持Flat和Hierarchy設(shè)計(jì)流程，靈活適應(yīng)不同芯片測(cè)試需求
- 建立在UVTespert Shell自動(dòng)化平臺(tái)之上，由UTDB數(shù)據(jù)庫(kù)提供強(qiáng)大支持
- 基于IJTAG的自動(dòng)化流程，大幅提高測(cè)試設(shè)置效率
- 強(qiáng)大的設(shè)計(jì)規(guī)則檢查引擎，配備自動(dòng)或手動(dòng)修復(fù)功能，確保設(shè)計(jì)質(zhì)量
- 提供靈活的分組策略和完備的memory測(cè)試算法，特別針對(duì)先進(jìn)工藝如FinFET進(jìn)行優(yōu)化
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